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          可調(tiao)電阻常(chang)見(jian)故障和(he)檢(jian)測方法

            可調(tiao)電阻常(chang)見(jian)故障

            可調(tiao)電阻器(qi)的(de)故障發(fa)生(sheng)率(lv)比普(pu)通(tong)電阻高(gao)得多,主(zhu)要故(gu)障有下(xia)列(lie)壹(yi)些:

            1.可調(tiao)電阻器(qi)動(dong)片與碳(tan)膜之間(jian)接觸(chu)不(bu)良(liang),造(zao)成動片(pian)與碳(tan)膜的接(jie)觸(chu)電阻增(zeng)大(da)。

            2.可調(tiao)電阻的(de)碳(tan)膜破損(sun)或燒(shao)壞(huai),此(ci)時(shi)動(dong)片(pian)與碳(tan)膜之間(jian)的接(jie)觸(chu)不(bu)良(liang),或(huo)根本(ben)不能(neng)接觸(chu)上(shang)。

            3.可變電阻器(qi)的(de)引腳(jiao)斷裂。

            可調(tiao)電阻檢(jian)測方法

            可調(tiao)電阻器(qi)的(de)檢(jian)測方法同電阻器(qi)的(de)檢(jian)測方法基(ji)本(ben)壹(yi)樣,用歐姆檔測量有關引(yin)腳(jiao)之間(jian)的阻值(zhi)大(da)小(xiao),測量可以在(zai)電路板上(shang)直接(jie)進(jin)行,也(ye)可以將可調(tiao)電阻器(qi)脫開(kai)電路後(hou)單(dan)獨測量。

            由(you)於可調(tiao)電阻的(de)特殊性,在(zai)檢(jian)測過(guo)程(cheng)中需註意(yi)壹下(xia)幾(ji)個(ge)方面(mian)。

            1.若測量動(dong)片與某(mou)個(ge)定(ding)片之間(jian)的阻值(zhi)為(wei)0歐姆,則(ze)此時(shi)應(ying)看(kan)動片(pian)是否(fou)已(yi)轉動至(zhi)所測定(ding)片(pian)這側(ce)的端(duan)點(dian),不(bu)然(ran)可以認(ren)為(wei)可調(tiao)電阻器(qi)已(yi)經損(sun)壞(在路測量時(shi)要排(pai)除(chu)外(wai)電路的(de)影(ying)響(xiang))。

            2.若測量動(dong)片與任(ren)壹(yi)定片(pian)之間(jian)的阻值(zhi)已(yi)大於(yu)標稱阻值(zhi),則(ze)說(shuo)明(ming)可調(tiao)電阻已(yi)經(jing)出現開(kai)路(lu)故(gu)障。

            3.測量中,測量動(dong)片與某(mou)壹(yi)定片(pian)之間(jian)的阻值(zhi)小(xiao)於(yu)標稱阻值(zhi),並(bing)不能(neng)說(shuo)明(ming)可調(tiao)電阻器(qi)已(yi)經損(sun)壞,而應(ying)該看(kan)動片(pian)此時(shi)處(chu)於說(shuo)明(ming)位置,這壹點與普(pu)通(tong)電阻器(qi)不(bu)同。

            4.脫開(kai)測量時(shi),可用萬(wan)用表歐(ou)姆檔的(de)適當(dang)量程(cheng),壹支表棒接動(dong)片壹(yi)支表棒接某(mou)壹個(ge)定(ding)片,再用瓶(ping)口旋具順時針(zhen)或逆(ni)時針(zhen)緩(huan)慢(man)旋轉動片(pian),此(ci)時表針(zhen)應(ying)從(cong)0歐(ou)姆連續變化(hua)到標稱阻值(zhi)。同(tong)樣方法再測量另(ling)壹個(ge)定(ding)片與動(dong)片(pian)之間(jian)的阻值(zhi)變化(hua)情況,測量方法和(he)測量結果應(ying)相(xiang)同。這樣,說(shuo)明(ming)可調(tiao)電阻器(qi)是(shi)好的(de),否(fou)則(ze)可調(tiao)電阻已(yi)經(jing)損壞(huai)。

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